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GB/T 28634-2012
中文名称：微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析
英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
| 中国标准分类(CCS)： | N53 |
| 国际标准分类(ICS)： | 71.040.99 |
| 发布日期： | 2012-07-31 |
| 实施日期： | 2013-02-01 |
| 页数： | 16 |
| 标准状态： | 即将作废 |
| 标引依据： | 国家标准公告2012年第17号 |
| 点击数： | 119 |
| 废止日期： | 2025-11-01 |
| 适用范围： | 本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样徽米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:定量分析原理;本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;仪器的一般要求;有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。 |
浙公网安备 33020902000221号
